본 발명은 대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 레퍼런스가 없는 샘플의 자기상관(autocorrelation) 신호 획득용 홀로…
본 발명은 위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법을 공개한다. 이 장치는 결맞는(coherent) 엑스선 광을 발생시키는 광원부; 상기 엑스선 광을 인가받…
