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기 술 명
스펙트럴 간섭계를 이용한 광섬유 및 광도파로의 색분산 측정장치 및 색분산 측정방법
연 구 자
김덕영(정보통신공학부)
등록번호
10-0947731-00-00
출원번호
10-2008-0009831
문 의 처
문희곤062-715-3077hgmoon@gist.ac.kr
발명정보

본 발명의 색분산 측정장치는 간단하면서도 정확하고 빠르게 광섬유 또는 광도파로의 색분산을 측정하기 위해서 간섭계를 사용하여 검출된 간섭무늬 파형으로부터 직접적으로 전 파장 영역의 위상값을 얻어 주파수성분에 대한 2차 미분후 광섬유의 색분산(Chromatic dispersion)을 얻는다. 짧은 길이의 단일모드 광섬유를 측정가능할 뿐만 아니라 수미터 이상의 긴 광섬유의 색분산 측정이 가능하며, 측정시간의 1s 이내의 빠른 측정이 가능하다.

발명효과

본 발명의 색분산 측정 장치 및 색분산 측정 방법에 따르면, 저가의 광원과 파장성분광검출기 및 간단한 간섭계를 이용하여 측정된 간섭 무늬로부터 직접 위상값을 얻고 간단한 수학적인 처리 과정을 거쳐서 단일모드광섬유 또는 광도파로에서의 색분산값을 측정한다. 상용화된 광섬유 측정 장비보다 약 80% 이상의 저렴한 가격으로 색분산 측정 장치를 구성할 수 있으며, 60 dB 미만의 좋은 분해능을 제공하며, 수 m 미만에서부터 수 cm의 짧은 길이의 단일모드 광섬유를 측정가능할 뿐만 아니라 측정시간은 0.1s 이내의 빠른 측정이 가능하다. 따라서, 간섭계에서 일어나는 환경적인 영향을 쉽게 극복할 수 있고, 쉽게 간단한 방법으로 산업 현장에서 단일모드 광섬유 또는 광도파로에서의 색분산을 측정하는데 효과적으로 적용할 수 있다.

대표청구항

광원에서 출사된 광을 자유공간을 갖는 기준광경로 및 측정대상광경로로 분배하여 입사시키는 제1광분배기; 상기 기준광경로 및 상기 측정대상광경로를 통과한 광을 서로 결합시켜 간섭무늬를 일으키게 하는 제2광분배기; 및 상기 제2광분배기에서 결합되어 상기 간섭무늬를 가지는 광신호의 각 파장별의 파형을 검출하여 전 파장 영역의 위상값을 계산가능하게하고 상기 전 파장 영역의 위상값을 토대로 색분산 값을 계산 가능하게 하는 파장성분검출기를 포함하며, 상기 측정대상 광경로는 측정대상 광섬유가 구비된 측정대상 광섬유 경로를 포함하고, 상기 제1광분배기가 상기 간섭무늬를 정확하게 확보하기 위해 상기 기준광경로 및 상기 측정대상광섬유경로 각각의 편광성분을 일치시키기 위해서, 상기 광원의 광을 상기 기준광경로 및 상기 측정대상광섬유경로로 50:50으로 분배하는 것을 특징으로 하는 색분산 측정장치.